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无锡ROHS检测仪

产品名称:无锡ROHS检测仪

产品价格:0

产品型号:EDX1800B

产品产地:中国大陆

访问次数:46

发布时间:2020/11/11 10:29:15

简介内容:

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    无锡ROHS检测仪

     ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件,相对简单。
    波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
    nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
    式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
    能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
    Q=kE
    式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
    待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
    为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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    ROHS检测仪指令操作:
    打开软件:打开电脑后开启仪器电源,双击桌面图标 以开启程序 ,程序会提示登录,
    选择相应的操作员并输入密码登录;
    预热:在X光管设置对话框中勾选‘打开高压电源’按钮”及“慢速升管压、管流”,然后单击 确定,待管压管流升至设定值时OK,将仪器预热30分钟;
    银校片微调:使用银校片对仪器进行校准,打开仪器上盖放入银校片,然后点击‘微调按钮进行校准,待调试OK后会弹出对话框点击确定;
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    ROHS检测仪技术原理
    RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪,又分为能量色散型和波长色散型,能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单,现市场上比较常见,其技术原理:
    特征X射线 
    放射性同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用,逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时,会放射该原子所固有能量的X射线-特征X射线。
    元素含量与特征X射线强度的关系
    不同元素特征X射线能量各不相同,依此进行定性分析;再根据特征X射线强度大小,可进行定量分析。
    可用函数关系式表示为:C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
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    ROHS检测仪分辨率从低到高探测器是NaI晶体闪烁计数器,充气比例计数器(He,Ne,Ar,Kr,Xe等),HgI2晶体探测器,半导体冷却Si PIN探测器,高纯硅晶体探测器,高纯锗晶体探测器,电冷或液氮冷却Si(Li)锂漂移。硅晶体探测器,Ge(Li)锂漂移锗探测器等
    目前常用的有电冷或液氮冷却Si(Li)锂漂移硅晶体探测器,Si PIN探测器,高纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在荧光检测的检测限,分辨率和能量范围。因此,如果您希望仪器的检测限良好,您必须了解。 低分辨率探测器的探测元件效果较差,难以探测被测物质中的微量元素。分辨率一般为700-1100eV。通常,可以用来测没有干扰的含量比较高的元素。
    价格是天瑞仪器的优势,由于是直接接触用户,减少了代理商,渠道商等很多环节,同时仪器的出货量有保障,仪器可以做到批量生产,标准化生产流程保障了仪器的质量。天瑞仪器作为国内上市企业,仪器测试精度和服务,在大的城市和工业比较集中地区都设有服务网点,为企业节省了采购和应用成本,提高产品竞争力。

    GENGXINSHIJIAN:2020/12/15 9:07:44

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